资深 ATE 测试工程师（薪资面议）

定位: 负责NAND Flash 产品的测试开发与量产导入。 从设计验证阶段开始，主导 CP(晶圆测试)与 FT(成品测试)的程式编写、测试硬体设计，并优化测试效率以降低初创期的量产成本。 一、岗位职责 1.测试方案与程序开发： 负责NAND Flash芯片在CP与FT阶段的ATE测试方案制定，独立开发与维护测试程式（Test Program），覆盖存储芯片的功能验证、参数特性测试及应力测试（横向/纵向干扰、高低温测试等）； 2.DFT与冗余修补算法实现： 协同数字设计团队评估与优化DFT（可测性设计）方案，开发存储芯片冗余（Redundancy）修补分析程序及Fuse烧录程式，确保初始坏块（Initial Bad Block）的正确标记与修补策略落地； 3.测试硬件设计与管理： 负责测试接口硬件（Load Board、Probe Card、DSA/DIB）的电路设计、仿真审查及外包制作管理； 4.测试效率优化：通过多站点并行测试（Multi-site Testing）优化、测试流程精简及程序调优，持续缩短测试时间（Test Time），降低量产测试成本； 5.量产导入与外包厂对接： 负责将测试程式转移至合作封测厂（OSAT），引导外包厂顺利完成量产上线、机台校准及测试稳定性验证，确保量产顺利爬坡。 二、任职资格 1.硕士及以上学历（或本科具备5年以上经验），微电子、电子工程、自动化等相关专业； 2.3~5年以上存储芯片（NAND Flash优先，NOR/EEPROM亦可）ATE测试开发经验； 3.熟练操作主流ATE测试平台（如Advantest T5800系列/T5833/T5851 / V93000，或Teradyne Magnum/Nextest）； 4.精通C/C++及脚本语言（Python/Perl），具备测试程式开发与调试能力； 5.深刻理解NAND Flash物理特性、写入/擦除/读取原理及基本失效模式； 6.初创团队适应力强，具备良好的跨公司(对外包厂)沟通协调能力。