ATE 测试经理

岗位职责 1.负责 DSP 芯片及高端 MCU 产品（含多核架构、SoC 类产品）的 ATE 量产测试方案开发与验证，涵盖 Wafer Sort（CP）与 Final Test（FT）环节； 2.基于 Advantest（V93000）、Teradyne（UltraFLEX/IG-XL）等主流 ATE 平台，开发测试程序（Test Program），包括直流参数、功能、AC 参数、SCAN/ATPG、BIST、Memory BIST、Function测试等测试项； 3.与 DFT/设计团队协作，制定测试覆盖率方案，与PE合作分析并提升芯片测试覆盖率、良率与测试成本； 4.针对高端 MCU 的复杂外设（ADC/DAC、CAN/CAN-FD、以太网、USB、SerDes 等）制定相应的测试策略与测试项开发； 5.负责测试硬件（Load Board、Probe Card、Socket、Handler 接口板）的需求定义、设计评审与验证； 6.分析量产测试数据，进行良率分析（Yield Analysis）、失效分析（FA）与测试限值（Limit）优化，推动良率提升与测试时间（Test Time）降低； 7.支持新产品导入（NPI），完成从工程样品到量产测试的平滑转移（Release to Production）； 8.编写并维护测试规范、测试报告及相关文档，确保测试流程符合质量体系要求。 任职要求 1.电子工程、微电子、自动化等相关专业，本科及以上学历，5年以上数字芯片 ATE 测试开发经验（优秀应届生可放宽）； 2.熟悉至少一种主流 ATE 平台（Advantest V93000 / Teradyne UltraFLEX / Chroma 等），具备 C/C++、Python 或 Perl 编程能力； 3.熟悉数字电路测试方法，了解 SCAN、BIST、JTAG、MBIST 等 DFT 技术，有 DSP、高端 MCU、SoC 或高速接口芯片测试经验者优先； 4.熟悉 MCU 常用外设接口（CAN、LIN、以太网、USB、SPI、I2C、ADC 等）的测试方法者优先； 5.熟悉常用测试仪器（示波器、逻辑分析仪、码型发生器等），具备信号完整性基础认知； 6.具备良好的数据分析能力，熟练使用 Excel/JMP/Minitab 等工具进行良率与相关性（Correlation）分析； 7.具备良好的跨部门沟通能力、问题定位能力和抗压能力，能适应量产爬坡阶段的工作节奏。 加分项 有量产百万颗级以上芯片的测试导入经验； 熟悉车规 MCU（AEC-Q100 相关）测试要求与测试项开发； 有测试时间优化、多工位并行测试（Multi-site）量产经验。