東レ/電子顕微鏡によるデバイス構造解析/年収500万～800万円

仕事内容

給料: 5,000,000 円 – 8,000,000 円

職種: 正社員

<東レ/正社員>FIBを用いた電子顕微鏡による先端材料・デバイスの微細構造解析 業務内容 FIB(集束イオンビーム)-SEM装置を用いた電子デバイスの構造解析をご担当いただきます。 主要な業務は以下の通りです。 多様な電子顕微鏡観察に適した、様々な方法での微小領域加工 分析目的のヒヤリングや測定結果の説明を通した顧客サポート 最新技術である多イオン種プラズマFIBを用いた新規応用分野の探索と社外へのPR <変更の範囲:会社の定める業務> 入社と同時にグループ企業の「株式会社東レリサーチセンター」に出向となります(東レ(株)籍) [配属先情報] 株式会社東レリサーチセンター 形態科学研究部第1研究室 TEM技術は高度な前処理から多様な観察・分析を駆使して、産業界のみならず学会でも高い認知度を得ています。 最先端のTEM設備と経験豊富な技術スタッフで高難度の受託分析評価を実施しつつ、大学や国立研究所との共同研究なども積極的に実施し、新しい知見を学会発表したり、評価方法を開発する取り組みも実施しています。 最終学歴 大学院、大学卒以上 必須要件 電子顕微鏡を用いた材料分析の経験 FIB装置の使用経験 歓迎要件 分光手法を用いた電子状態などの構造解析の実施経験 ハローワークでお仕事をお探しの方にもおススメです