Amal Subramanian

アマル・スブラマニアンと申します。半導体業界で12年以上の経験を持つATEテストエンジニアリングリードです。テストプログラム開発、デバッグ、歩留まり改善、量産対応を専門としており、MCU、車載半導体、RF、Wi-Fi/Bluetooth製品の評価に携わってきました。

Advantest T2000およびTeradyne Uflexを用いたATE開発経験が豊富で、DC試験、RF試験、DFT検証、Shmoo解析、Vector Replay、IDDQ試験、テスト時間短縮などに強みがあります。新製品立ち上げ（NPI）、ウェハソート（EWS）、最終試験（FT）の開発をリードしてきました。

現在はQuest Global⁠� JapanにてTechnical Lead – ATE Testingとして勤務し、Renesas Electronics⁠�のMCUプロジェクトを担当しています。テスト開発を主導し、プログラム最適化によりテスト時間を10%削減しました。

以前はInfineon Technologies⁠�でWi-Fi/Bluetooth製品のテスト開発を担当し、テスト時間を20%短縮しました。また、Tessolve Semiconductor⁠�ではSTMicroelectronics⁠�向けの車載半導体プロジェクトに従事し、コスト削減と生産性向上を実現しました。

半導体テスト技術に強い関心を持ち、技術課題の解決、歩留まり改善、量産効率向上に取り組むことにやりがいを感じています。これまでの経験とリーダーシップを活かし、半導体製品の品質向上に貢献したいと考えております。

ATE Technical Lead - Quest Global (2025- present)

Staff Test Engineer - Infineon Technologies ( 2022-2025)

Test Lead - Tessolve Semiconductor (2017-2022)

Design and Development Engineer - CT control Technology ( 2013-2017)

Bachelor of Technology in Electronics and Instrumentation Engineering